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电子探针X射线显微分析仪

  • 简 介: 
    仪器名称: 电子探针X射线显微分析仪
    型  号: JXA-8100
    生产厂商: 日本电子株式会社
    购置年份: 2007年
    放置地点: 凌峰电镜楼-101#

  • 主要技术指标: 
    • 发叉式钨灯丝
    • 加速电压:0~30kV
    • 发射电流:10-6A~10-12A
    • 放大倍数:40×~300,000x
    • 波谱能量分辨率:10eV
    • 能谱能量分辨率:136eV
    • 分析元素范围:5B~92U

  • 主要功能和应用: 
    1. 成分分析不需破坏样品;能谱定性快,一般元素定量准确,波谱定量准确特别是对轻元素的测量;
    2. 可以进行点分析,线分析,面分析等多种操作;
    3. 具备二次电子和背散射电子成像功能,可以观察样品形貌,元素衬度。
    4. 矿物、金属、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料等形貌观察,图像分析、处理,微区成分分析。

  • 仪器管理员:

    范松华:

    王金明:0592-2181508-606(O)