
- 简 介:
仪器名称: 扫描俄歇微探针Scanning Auger Microprobe (SAM)
型 号: PHI 660
生产厂商: Physical Electronics, Inc.
购置年份: 2002年
放置地点: 凌峰楼-101#
- 主要技术指标:
- 检测范围:原子序数大于He的所有元素
- 检测极限:0.1 at%
- 信息深度:0.5~5 nm
- 空间分辨率:25 nm
- 能量分辨率≤0.3%
- 半定量:相对原子灵敏度因子法
- 主要功能和应用:
主要应用于固体材料的成份,特别是微纳区域的表面与结构分析(线扫描,面扫描,深度剖析,成像)。
- 仪器管理员:
徐富春:0592-2184829(O), esca@xmu.edu.cn
岑丹霞:0592-2184829(O)
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