首页 > 科学研究 > 支撑平台 共享仪器
扫描俄歇微探针

  • 简 介: 
    仪器名称: 扫描俄歇微探针Scanning Auger Microprobe (SAM)
    型  号: PHI 660
    生产厂商: Physical Electronics, Inc. 
    购置年份: 2002年
    放置地点: 凌峰楼-101#

  • 主要技术指标: 
    • 检测范围:原子序数大于He的所有元素
    • 检测极限:0.1 at%
    • 信息深度:0.5~5 nm
    • 空间分辨率:25 nm
    • 能量分辨率≤0.3%
    • 半定量:相对原子灵敏度因子法

  • 主要功能和应用:

    主要应用于固体材料的成份,特别是微纳区域的表面与结构分析(线扫描,面扫描,深度剖析,成像)。

  • 仪器管理员:

    徐富春:0592-2184829(O), esca@xmu.edu.cn

    岑丹霞:0592-2184829(O)